我们的产品使用CC430F5137，在低温（-35c）高温（70c）下A/D性能出现无规律，从而不能有效补偿。
Dump出芯片的TLV。发现不同参考电压1.5V/2.0v/3.0V/ 在30C 温度下校准值，在芯片内部TLV给出是相同的，（如下分别是 04 17，04 32）这让人觉得不可信。
我们实验1.5V, 30度环境下A/D 实测为( 1#芯片为0x 86 c0, 1#芯片为0x88 00) . 我们手里大部分cc430F5137都这样，导致无法使用芯片校准数据测量温度。
1# 芯片 TLV dump值
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06 06 74 05 51 37 12 12 08 0a 0c 72 8b 46 0b 00
1c 00 f8 fe 11 10 05 80 01 00 17 04 00 0a 17 04
80 07 17 04 00 06 12 06 b5 7b ca 7b c6 7b 02 55
2# 芯片 TLV dump值
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06 06 14 e4 51 37 12 12 08 0a 0c 72 8b 46 1a 00
31 00 f8 fe 11 10 05 80 01 00 32 04 33 0a 32 04
a6 07 32 04 1f 06 12 06 ac 7b b4 7b be 7b 02 55