MCU：MSP430F169
ADC_CLK：AD内部时钟
转换模式：连续通道一次转换
参考电平：外部+3.0V
现象描述：每个采集周期，在AD采集端口产生幅度约0.4V的干扰脉冲。
干扰脉冲形态：
部分电路原理图：
注：AD采集端口的输入均是运放的输出。
做了以下调试：
1.AD中断程序读取数据，中断程序跳出后，产生干扰脉冲。
2.调整ADC采样时钟、参考电平（内部参考）、采样保持时间，干扰脉冲仍周期性的存在，不同的采样时钟、采样保持时间，其周期不同。
3.采集AD1通道时，AD2~3通道亦产生同周期的干扰脉冲。
4.AD1~2端口与被采集电路断开，外接0.1V电平到AD1采集端口时，仍旧会产生周期性的干扰脉冲。